ꄠ
  • 끠
  • 首页
  • 关于我们
  • 公司产品
    • 表面轮廓及力学量测
    • 膜厚及电性量测
    • 颗粒检测
    • 成分分析
  • 应用中心
    • 光刻胶
    • 化合物半导体
    • 晶圆缺陷
    • 二维材料
    • 锂电材料
  • 技术文章
  • 新闻中心
  • 联系我们
首页  ꄲ  公司产品

公司产品

  • 上海艾时微技术开发有限公司
  • 联系方式：166 2105 0624
  • 销售经理：王先生
  • 邮箱：admin@ai-microtech.com

  • 表面轮廓及力学量测

    • 台阶仪

    • 光学轮廓仪

    • 扫描电子显微镜

    • 纳米力学操纵

    • 薄膜应力仪

  • 膜厚及电性量测

    • Filmetrics膜厚仪

    • 光谱椭偏仪

    • XRF镀层测厚仪

    • 四探针测试仪

    • 汞探针CV测试仪

    • 非接触电阻率测试仪

  • 颗粒检测

    • 晶圆/光罩缺陷测试仪

    • 尘埃粒子计数器APC

    • 液体颗粒计数仪LPC

    • 激光粒度仪

    • 颗粒及金属离子纯化装置

  • 成分分析

    • 纳米红外成像与光谱采集系统

    • 显微共聚焦拉曼光谱仪

    • 电感耦合等离子体质谱仪

    • 离子色谱仪

  • 四探针测试仪R50/54

    产品名称：四探针方阻测试仪
    品牌：KLA-Filmetrics
    型号：R50/54
    关键词标签：方块电阻、四探针、电阻率
    简短描述：四探针方阻测试仪用来测试金属、半导体薄膜的方块电阻2D/3D mapping。

    넶40 ¥ 0.00
  • 销售经理：王先生
  • 手机：166 2105 0624
  • 邮箱：admin@ai-microtech.com
  • 网址：www.ai-microtech.com
  • 公司名称：
    上海艾时微技术开发有限公司

导航

  • 应用中心
  • 技术文章
  • 关于我们
  • 公司产品
  • 新闻中心
  • 联系我们

产品类别

也许你想看看

  • 表面轮廓及力学量测

  • 膜厚及电性量测

  • 颗粒检测

  • 成分分析

版权所有： 上海艾时微技术开发有限公司
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6