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产品名称：膜厚测量仪品牌：KLA-Filmetrics型号：F50/F54关键词标签：膜厚仪、椭偏仪、Filmetrics简短描述：采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的自动光学膜厚测试系统。
场发射扫描电镜Apreo 2 SEM-用来观察锂电正/负级材料的形貌和粒径
产品名称：激光粒度仪品牌：日本Horiba型号：LA-960V2关键词标签：激光粒度仪简短描述：LA-960V2 是一款高精度粒径分析仪，能够测量NIST可溯源标准粒子，精度达 0.6% ，重复性达0.1%。
台式X射线衍射仪MiniFlex-用来测定锂电正/负极材料的晶相结构
