2026年4月，苏州某实验室采购我司销售的台阶仪，型号P-17，台阶范围0-327um，采用先进的LVDC传感器，可测量台阶高度、粗糙度、波纹度和应力参数。

2026年2月，杭州某实验室采购我司销售的F54-XY膜厚仪，波段380-1050nm，测量SiNx等薄膜，F54-XY是带高精度XY位移台的显微mapping膜厚仪。

2025年12月，上海某实验室采购我司销售的台阶仪，型号P-17，台阶范围0-327um，采用先进的LVDC传感器，可测量台阶高度、粗糙度、波纹度和应力参数。

2025年12月，上海某实验室采购我司销售的椭偏仪，型号SE-2000，光谱范围190-2500nm，可测量薄膜厚度、光学常数n&k，透过率和反射率等参数。

2025年9月，上海某设备厂商采购我司销售的台阶仪/探针式轮廓仪，型号P-17OF，台阶高度扫描范围5nm-327um，可测量纳米级到百微米级台阶高度、粗糙度、波纹度等参数。